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MF系列光學測量顯微鏡 采用透、反射的方式對工件長度和角度作 精密測量。主要運用于錄象磁頭、大規(guī)模集成電路線寬以及其它精密零件的測試。廣泛地適用于計量室、生產(chǎn)作業(yè)線及科學研究等部門。 主要優(yōu)點:工作臺除作X、Y坐標的移動外,還可以作360度的旋轉(zhuǎn),是一種理想的固定場所小型精密測量儀器。 加裝影像測量裝置,一種將將顯微鏡看到的實物圖像通過數(shù)模轉(zhuǎn)換,使其成像在顯微鏡自帶的屏幕上或計算機上的顯微鏡設(shè)備。特別適用于制造業(yè)、精密零件以及不方便
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三豐顯微鏡 新款工具測量顯微鏡
三豐顯微鏡 觀察、測量和處理系統(tǒng)化的顯微鏡陣容 MF 系列 176 系列 — 測量顯微鏡 • 可觀察清晰無閃爍正像,且視場開闊。 • 測量精度在同類設(shè)備中最高(符合JIS B 7153標準)。 • 使用ML 系列,專門為MF 系列設(shè)計的高NA物鏡(長工作距離型)。 • 照明裝置(反射/透射) 可選用高亮度LED 燈泡或鹵素燈泡。
• 利用可變孔徑光闌(反射/透射) 可進行無衍射觀察測量。 • 各類尺寸的標準工作臺,最大達到400×200mm。 • 快速釋放裝置便于在測量工件大或測量工件數(shù)量多時快速移動工作臺。 • 粗調(diào)/細調(diào)進給手柄作為標準配置安裝在立柱兩側(cè),便于精確聚焦與觀察測量,不受用左手或右手習慣的影響。 • 高倍目鏡觀察,最高達2000X。 • 標準測量顯微鏡,配有種類繁多的可選附件,包括Vision Unit 影像裝置與各種CCD數(shù)碼相機
三豐顯微鏡技術(shù)規(guī)格
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