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X-ray無(wú)損檢測(cè)設(shè)備可用于芯片掃描檢測(cè)

2023年06月03日

X-ray無(wú)損檢測(cè)設(shè)備是一種發(fā)展成熟的無(wú)損檢測(cè)方式，目前廣泛應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域?？捎糜跈z測(cè)電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等），通過(guò)檢測(cè)圖像對(duì)比度判別材料...

蔡司工業(yè)CT廠家-專業(yè)解答

2023年05月25日

有部分客戶在找蔡司工業(yè)CT廠家的時(shí)候，可能由于經(jīng)驗(yàn)不夠，對(duì)行業(yè)知識(shí)不是那么了解，因此需要廠家那邊進(jìn)行耐心地講解，提供專業(yè)的建議。三本工業(yè)測(cè)量的業(yè)務(wù)在面對(duì)這類客戶的時(shí)候，都是非常有耐心的，會(huì)耐心地給他們進(jìn)行講解，直到他們聽(tīng)懂。前段時(shí)間，客戶李先生通過(guò)網(wǎng)絡(luò)搜索...

蔡司三坐標(biāo)SPECTRUM的測(cè)量參數(shù)

2023年05月19日

蔡司三坐標(biāo)SPECTRUM無(wú)可比擬的高性價(jià)比高精度的測(cè)量結(jié)果對(duì)于質(zhì)量保證尤為重要。蔡司的橋式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)具有精確的探頭系統(tǒng)，可確保高測(cè)量速度。獲得巨大的價(jià)值新型蔡司三坐標(biāo)的先進(jìn)技術(shù)將使您獲得更高的品質(zhì)。此外，ZEISS VAST XXT的掃描技術(shù)可實(shí)現(xiàn)圓度誤差測(cè)量，這對(duì)于不斷提...